檢測(cè)流程

1、寄樣

2、免費(fèi)的初檢

3、報(bào)價(jià)表

4、兩方確認(rèn)，簽署保密協(xié)議書，開使試驗(yàn)

5、7-10個(gè)工作日左右完成試驗(yàn)

6、中后期服務(wù)，郵寄檢測(cè)報(bào)告!

我們的檢測(cè)有哪些優(yōu)勢(shì)?

產(chǎn)品評(píng)估：成分分析，分析成分比例，改善生產(chǎn)缺陷，提升產(chǎn)品品質(zhì)性能

政府監(jiān)管：工商檢測(cè)，市場(chǎng)監(jiān)督，項(xiàng)目投標(biāo)招標(biāo)，申請(qǐng)退稅基金等

上市品控：保證自己的產(chǎn)品能順利進(jìn)入各種電商品臺(tái)，商超等

打通市場(chǎng)：增強(qiáng)企業(yè)的認(rèn)知可信度，擴(kuò)大市場(chǎng)占有率，提高企業(yè)競爭力，彰顯產(chǎn)品品質(zhì)

工業(yè)診斷：為您解決工藝、材料中的未知物定性定量分析服務(wù)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考

ISO 22278-2020精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷，高級(jí)工業(yè)陶瓷)—使用平行X射線束的XRD方法對(duì)單晶薄膜(晶片)的結(jié)晶質(zhì)量的測(cè)試方法

GB/T 36655-2018電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態(tài)晶體二氧化硅含量的測(cè)試方法 XRD法

ISO 22278-2020精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷，高級(jí)工業(yè)陶瓷)—使用平行X射線束的XRD方法對(duì)單晶薄膜(晶片)的結(jié)晶質(zhì)量的測(cè)試方法

YB/T 5360-2020金屬材料 定量極圖的測(cè)定 X射線衍射法

SN/T 3514-2013電工鋼晶粒取向與無取向鑒定方法 X射線衍射測(cè)定織構(gòu)法