試樣各部分都應(yīng)達(dá)到試驗(yàn)箱（室）溫度3K以內(nèi)才開始試驗(yàn)。對(duì)于散熱型試樣，在溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)箱（室）內(nèi)試樣的溫度變化在每小時(shí)不超過1K時(shí)作為開始（或終止）暴露周期的時(shí)間，試樣溫度達(dá)到穩(wěn)定的最后1h作為暴露周期的最初1 h。
分為：振動(dòng)（正弦）與高溫綜合試驗(yàn)、振動(dòng)（正弦）與低溫綜合試驗(yàn)。

光學(xué)和光子學(xué)儀器振動(dòng)與高溫低溫綜合試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫的影響時(shí)的變化程度。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種光學(xué)和光子學(xué)儀器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸楣鈱W(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

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GB/T 12085.1-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分：術(shù)語、試驗(yàn)范圍
ISO 9022-1：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分：術(shù)語、試驗(yàn)范圍
ISO 9022-10：1998光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第10部分：振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
GB/T 12085.10-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第10部分：振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
GB/T 12085.2-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱
GB/T 12085.3-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：機(jī)械作用力
GB/T 2423.35電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.36 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFc；散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.43 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法振動(dòng)沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝

所有光學(xué)和光子學(xué)儀器包括來自其他領(lǐng)域附屬組件（如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備）