半導(dǎo)體器件環(huán)境試驗(yàn)半導(dǎo)體器件低氣壓試驗(yàn)半導(dǎo)體器件穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)
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半導(dǎo)體器件環(huán)境試驗(yàn)
試驗(yàn)項(xiàng)目 氣候環(huán)境試驗(yàn)：低氣壓試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、耐久性試驗(yàn)、快速溫度變化試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、耐潮濕試驗(yàn)、高溫工作壽命、溫度循環(huán)試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn) ，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
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半導(dǎo)體器件低氣壓試驗(yàn)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第1部分：總則 GB/T4937.2-2006半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第2部分：低氣壓 ，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
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半導(dǎo)體器件穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第1部分：總則 GB/T4937.4-2012半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第4部分：強(qiáng)加速穩(wěn)，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
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半導(dǎo)體器件溫濕度貯存試驗(yàn)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第1部分：總則 GB/T4937.42半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第42部分：溫濕度貯存 I，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
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半導(dǎo)體器件密封試驗(yàn)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第1部分：總則 GB/T4937.8半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第8部分：密封 IEC607，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
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半導(dǎo)體器件機(jī)械沖擊試驗(yàn)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第1部分：總則 GB/T4937.10半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第10部分：機(jī)械沖擊 IE，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
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